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12位每路可调氮吹仪 UGC-12T
技术参数型 号： UGC-12T 处理样品数： 12位，每路流量可单独控制 加热方式： 金属浴温度调节精度： ±0.1℃ 温控精度： ±0.3℃ 温控范围…
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方形可视流量可调水浴氮吹仪 UGC-12WF
技术参数：型 号：UGC-12WF处理样品数： 12位加 热 方式： 水浴温度调节精度： ±0.1℃温 控 精度： ±0.3℃温 控 范围： 室温＋5℃～99℃定 时 范围： 0～99…
03-30
12位水浴氮吹仪 UGC-12W
技术参数：型 号：UGC-12W处理样品数： 12位 加 热 方式： 水浴 温度调节精度： ±0.1℃ 温 控 精度： ±0.3℃ 温 控 范围： 室温＋5℃～99℃&…
03-30
12位方形干式定时氮吹仪 UGC-12M
技术参数型 号： UGC-12M处理样品数： 12位加热方式： 金属浴温度调节精度： ±0.1℃温控精度： ±0.3℃温控范围： 室温＋5℃～150℃温控方式： 数字显示…
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圆形水浴氮吹仪 UGC-24C
技术参数型号：UGC-24C样品位数： 24位加热方式： 恒温水浴温度范围： 室温+5～99℃（液晶显示）温度调节精度： ±0.1℃控温精度： ±0.3℃定时范围： 0…
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圆形水浴氮吹仪 UGC-45C
产品型号：UGC-45C圆形水浴氮吹仪技术参数型号：UGC-45C样品位数： 45位加热方式： 恒温水浴温度范围： 室温+5～99℃（液晶显示）温度调节精度： ±0.1℃…
03-30
自动升降圆形水浴氮吹仪 UGC-12CE/24CE/45CE
技术参数型 号：UGC-12CE/24CE/45CE样品位数： 12位，24位，45位加热方式： 恒温水浴温度范围： 室温+5～99℃（液晶显示）温度调节精度： ±0…
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仪器化落锤撕裂试验机 DWTT-H
DWTT-H仪器化落锤撕裂试验机适用于各种铁素体钢、特别是各种管线钢的落锤撕裂冲击试验。符合GB/T8363-2007和ASTM E436试验方法。该落锤冲击试验机主机采…
03-30
冲击试样缺口夏比投影仪 CST-50
CST-50冲击试样缺口夏比投影仪是专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器。本冲击试样缺口投影仪是利用光学投影方法将被测的冲…
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超声测厚仪 CTS-400+
CTS-400+型超声测厚仪，采用超声脉冲回波的原理，用于测量金属材料、部分非金属材料（陶瓷/玻璃/塑料等）的厚度，广泛用于冶金、机械、电力、化工…
03-30
精确超声波测厚仪 PM-5DL
技术参数显 示 屏:2.4QVGA(320×240)彩色OLED屏，对比度10000:1工作原理:使用单晶延迟探头的超声波测量原理测量模式及测量范围（材料为钢）I-E：脉冲-回波…
03-30
精确超声波测厚仪 PM-5
技术参数显 示 屏:2.4QVGA(320×240)彩色OLED屏，对比度10000:1工作原理:使用单晶延迟探头的超声波测量原理测量模式及测量范围（材料为钢）I-E：脉冲-回波…
03-30
大容量穿透涂层超声波测厚仪 UM-5DL
本仪器提供时实A、B扫描功能，通过回波显示可以帮助使用者更好的控制测量，使测厚范围更广，测量数值更精确，也可避免在测量中与材料相关的误差…
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穿透涂层超声波测厚仪 UM-5D
UM-5D技术参数本仪器提供时实A、B扫描功能，通过回波显示可以帮助使用者更好的控制测量，使测厚范围更广，测量数值更精确，也可避免在测量中与材…
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彩屏A/B扫描测厚仪 UM-5
UM-5技术参数本仪器提供时实A、B扫描功能，通过回波显示可以帮助使用者更好的控制测量，使测厚范围更广，测量数值更精确，也可避免在测量中与材…
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超大容量穿透涂层超声波测厚仪 UM-4DL
UM-4DL技术参数显示屏:2.4QVGA(320×240)彩色OLED屏，对比度10000:1工作原理:使用双晶探头的超声波脉冲回波法测量范围:标准模式：0.6至508毫米(0.025至20.00英寸…
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穿透涂层超声波测厚仪 UM-4D
UM-4D技术参数显示屏:2.4QVGA(320×240)彩色OLED屏，对比度10000:1工作原理:使用双晶探头的超声波脉冲回波法测量范围:标准模式：0.6至508毫米(0.025至20.00英寸）…
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A扫描快照超声波测厚仪 UM-4
UM-4技术参数显示屏:2.4QVGA(320×240)彩色OLED屏，对比度10000:1工作原理:使用双晶探头的超声波脉冲回波法测量范围:0.6至508毫米(0.025至20.00英寸）取决于所用…
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涂镀层测厚仪 CM10A
测量原理本款仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、…
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涂镀层测厚仪 CM10FN
技术参数探头：双功能两用探头工作原理：采用磁感应和涡流两种模式测量范围 (um) ：0～1500um低限分辨力 (um) ：0.1um误差：±(2%H+2) um测试条件：*小曲率…
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