国产大米外观品质检测仪 HAD-SCEHAD-SCE
  • 国产大米外观品质检测仪 HAD-SCEHAD-SCE

大米外观品质检测仪 HAD-SCE

  • 品牌: 国产
  • 型号:HAD-SCE
  • 监管:
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    产品名称:大米外观品质检测仪 HAD-SCE
    结构组成
    适用范围
    温馨提示
    1.大米外观品质检测仪 HAD-SCE可能含有禁忌内容或者注意事项,具体详见说明书;
    2.购买大米外观品质检测仪 HAD-SCE,消费者应仔细阅读产品说明书或者在医务人员的指导下购买和使用。
      编辑日期:2026-03-27

    用途:用于各种类大米(精米、糙米、糯米等)各项外观品质指标的精准自动检测,可进行多参数、批量化的自动分析。

    2、系统组成:双光源扫描成像仪及附件、分析软件和电脑(电脑另配)。

    3、主要性能指标:

    ★配光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪来成像(中晶 ScanMaker i800 Plus)。透扫幅面30 cm×20 cm,*小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm。

    ★可自动一次性测量分析30g以上大米样品的:垩白度/率、碎米率及小碎米率、整精米数量、整精米率、大米透明度、黄粒米、杂质量、异品种粒、不完善粒(未成熟粒),及糯米的阴米率、病斑或黄变率。还可自动分析大米的碾米精度、裂纹率,以及糙米胚芽率。

    自动测量每粒的面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径(长度测量误差≤±0.05mm,长宽比测量误差≤±0.05,重现性误差≤±0.02;整精米率、碎米率指标测量误差≤±1.0%、重现性误差≤±0.25%)。可大批量自动分析处理与输出结果。与国标GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354大米、农业部新标准【大米】NY/T2334-2013等标准相对应,检测各项指标的重量比和粒数比。各分析图像、分布图、结果数据可保存,分析结果输出**Excel表,可输出分析标记图。

    ★具有自动学习与识别特性,可自动分割粘连的大米、种粒,可做自动分类分析。

    ★具有样本条码、电子天平RS232数据软件接口。可兼测的种粒直径范围0.3-20mm(*厚15 mm),自动测量精度≥99%,交互修正后准确率达**。

    注:本技术标书中打★款项**须响应,否则为重大偏离

    选配电脑推荐:联想一体机(双核CPU /2G内存/512M独立显卡/500G硬盘/ 20”彩显/DVD-RM /无线网卡)。


    注册证号
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    招标产品 品牌/型号 招标单位 中标单位 中标价格中标日期
    *大米外观品质检测仪 HAD-SCE中标信息来源于互联网,仅供参考!
    大米外观品质检测仪 HAD-SCE说明书 正在维护中,如有需求请致电:021-50308503
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